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SEM錫須檢測(cè)|錫須形貌觀察|成分分析：錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備，...
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光通信芯片測(cè)試|硅光子器件|可靠性驗(yàn)證：硅光芯片測(cè)試是確保硅光芯片性能和質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)，廣電計(jì)量打造專業(yè)人才隊(duì)伍、構(gòu)建完善的硅光芯片測(cè)試體系，助力硅光芯片光通信產(chǎn)業(yè)高速發(fā)展。
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材料表面分析|微區(qū)成分測(cè)試|X射線能譜：X射線光電子能譜(XPS)表面分析測(cè)試通過(guò)元素含量與價(jià)態(tài)對(duì)比，有效評(píng)估封裝基板表面工藝處理效果，并精準(zhǔn)檢測(cè)器件表面污染情況，提供可靠的表面成分分析數(shù)據(jù)。
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靜電放電ESD測(cè)試-人體模型-接觸放電：靜電放電試驗(yàn)是電磁兼容測(cè)試?yán)锩嬷匾臏y(cè)試項(xiàng)目之一，主要是為了檢驗(yàn)被測(cè)部件抵抗人體靜電的能力，模擬的工況覆蓋搬運(yùn)、檢修、正常使用等。
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輻射騷擾RE-電磁輻射-空間輻射測(cè)試：廣電計(jì)量提供專業(yè)的輻射騷擾（RE）測(cè)試服務(wù)，采用零部件/模塊的輻射發(fā)射—ALSE法（吸收室法），精確測(cè)量電子部件通過(guò)空間輻射方式對(duì)外發(fā)射的電磁干擾，評(píng)估其對(duì)同一電...
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輻射抗擾度RS-射頻電磁場(chǎng)-抗干擾測(cè)試：廣電計(jì)量在電磁兼容領(lǐng)域深耕多年，針對(duì)輻射抗擾度（RS）測(cè)試構(gòu)建了從仿真分析、標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試到設(shè)計(jì)防護(hù)的全鏈條服務(wù)能力。輻射抗擾度試驗(yàn)是電磁兼容測(cè)試?yán)锩媸褂米疃嗟脑囼?yàn)方...
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傳導(dǎo)騷擾測(cè)試-CE-電源端口檢測(cè)：廣電計(jì)量針對(duì)通過(guò)線纜連接的各類電子部件，提供全流程的傳導(dǎo)騷擾（CE）測(cè)試服務(wù)。該測(cè)試旨在精準(zhǔn)測(cè)量電子部件通過(guò)線束直接傳導(dǎo)或耦合方式對(duì)外發(fā)射的電磁干擾，評(píng)估其對(duì)同一電磁...
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NG eCall測(cè)試-緊急呼叫系統(tǒng)-車載通信：廣電計(jì)量始終致力于為汽車產(chǎn)業(yè)鏈企業(yè)提供一站式、國(guó)際化、前瞻性的NG eCall檢測(cè)認(rèn)證服務(wù)務(wù)，可針對(duì)主機(jī)廠及零部件廠家的產(chǎn)品設(shè)計(jì)驗(yàn)證和上市認(rèn)證需求，提供系...
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元器件腐蝕驗(yàn)證-鹽霧測(cè)試-濕熱試驗(yàn)：重點(diǎn)針對(duì)易發(fā)生腐蝕的電阻、電容、磁珠、LED、IGBT、PCB、微波射頻陶瓷封裝焊料、裸芯片PAD等，及防護(hù)工藝、防護(hù)材料。有針對(duì)性地開(kāi)展硫化腐蝕、鹵素腐蝕、助焊劑...
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